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出版社
- 清华大学出版社(1)
出版时间
- 2012.06(1)
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纳米数字集成电路老化效应:分析、预测及优化
— 靳松, 韩银和著
索书号：TN431.2/16
标准编码： 978-7-302-28543-4
出版信息：北京 清华大学出版社 2012.06
主题词： 纳米材料 纳米材料 数字集成电路
中文图书
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