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中文图书(1)

主题

绝缘栅场效应晶体管(1)

出版社

科学出版社(1)

出版时间

2023.3(1)

压接型IGBT器件封装可靠性建模与测评

— 李辉 ... [等] 著

索书号：TN386.2/9

标准编码： 978-7-03-071274-5

出版信息：北京科学出版社 2023.3

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