ISBN/价格: | 978-7-118-12500-9:CNY125.00 |
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作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 伪集成电路检测与防护/.(美) 马克 (穆罕默德)·德黑兰尼普尔, 乌杰瓦尔·吉恩, 多梅尼克·福特著/.Mark (Mohammad) Tehranipoor, Ujjwal Guin, Domenic Forte/.李雄伟 ... [等] 译 |
出版发行项: | 北京:,国防工业出版社:,2022.7 |
载体形态项: | xx, 227页:;+图:;+25cm |
一般附注: | 装备科技译著出版基金 |
提要文摘: | 伪集成电路是指不符合正品集成电路设计规范要求的非授权产品, 主要形式包括回收、重标记、超量生产、不合格/有缺陷、克隆、伪造文件, 以及篡改等, 会大大降低应用系统的安全性和可靠性。本书对伪集成电路相关问题进行了全面剖析, 并系统阐述并分析了其检测与防范方法。本书面向伪电子元件领域的初学者和专家, 全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题, 可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室, 以及学术界提供必需的路线图。 |
题名主题: | 集成电路 检测 |
中图分类: | TN407 |
个人名称等同: | 德黑兰尼普尔 著 |
个人名称等同: | 吉恩 著 |
个人名称等同: | 福特 著 |
个人名称次要: | 李雄伟 译 |
个人名称次要: | 张阳 译 |
记录来源: | CN 百万庄 20230315 |