书目详细信息
： 单板级JTAG测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-09986-7:CNY58.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 单板级JTAG测试技术/.王承, 刘治国编著 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2015 |
| 载体形态项： | x, 205页:;+图:;+21cm |
| 提要文摘： | 本书内容包括：基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。 |
| 题名主题： | 集成电路 测试技术 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 王承, 编著 |
| 个人名称等同： | 刘治国, 编著 |
| 记录来源： | CN 浙江省新华书店集团公司 20150625 |