书目详细信息
： 纳米级集成电路系统电源完整性分析
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-56987-9:CNY125.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米级集成电路系统电源完整性分析/.(日) 桥本正德, (美) 拉杰·耐尔等著/.戴澜, 陈铖颖, 张晓波译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2017.09 |
| 载体形态项： | XV, 314页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 微电子与集成电路先进技术丛书 |
| 相关题名附注： | 英文题名取自封面 |
| 提要文摘： | 进入21世纪以来, 集成电路制造工艺的发展日新月异, 目前已经进入到了前所未有的纳米级阶段。电源完整性作为系统级芯片设计的重要课题, 直接影响到集成电路的可靠性、性能以及功耗。因此, 本书作者以系统级电源完整性为切入点, 深入探讨了电源完整性的影响、时钟产生及分布、输入/输出单元中的电源完整性设计、电源完整性建模、温度效应以及低功耗电源完整性设计等方面的问题, 并以IBMPOWER7+处理器芯片作为实例进行分析, 后针对新型碳纳米管互连元件在电源完整性中的应用做了简要讨论。 |
| 题名主题： | 集成电路 电源电路 |
| 中图分类： | TN710.02 |
| 中图分类： | TN86 |
| 个人名称等同： | 桥本正德 著 |
| 个人名称等同： | 耐尔 著 |
| 个人名称次要： | 戴澜 译 |
| 个人名称次要： | 陈铖颖 译 |
| 个人名称次要： | 张晓波 译 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20170913 |