书目详细信息
： 数字电路老化预测与容忍
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-312-04359-8:CNY30.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 340000 |
| 题名责任者项： | 数字电路老化预测与容忍/.徐辉著 |
| 出版发行项： | 合肥:,中国科学技术大学出版社:,2018.02 |
| 载体形态项： | 123页:;+图:;+24cm |
| 一般附注： | 国家自然科学基金青年科学基金项目 (61404001) 安徽省高校省级自然科学研究重大项目 (KJ2014ZD12) |
| 提要文摘： | 本书围绕NBTI引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究。研究的内容主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析论述, 对于高性能集成电路中常用的多米诺电路, 针对其老化研究容忍方法, 并提出对于多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。 |
| 并列题名： | Prediction and tolerance on digital circuits aging eng |
| 题名主题： | 数字集成电路 研究 |
| 中图分类： | TN431.2 |
| 个人名称等同： | 徐辉 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20180524 |