书目详细信息
： 公差配合与几何精度检测
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-115-16832-0:CNY22.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 公差配合与几何精度检测/.王宇平主编 |
| 出版发行项： | 北京:,人民邮电出版社:,2007.12 |
| 载体形态项： | 230页:;+26cm |
| 一般附注： | 高职高专机电类规划教材 |
| 提要文摘： | 本书分为3篇，即三项基本精度、技术测量基础和典型零件精度与检测。内容包括：尺寸精度、形位精度、表面精度、检测基础理论、三项基本精度检测、滚动轴承精度与检测等。 |
| 题名主题： | 公差 配合 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 机械加工 几何误差 高等教育 教材 |
| 题名主题： | 公差 |
| 题名主题： | 配合 |
| 题名主题： | 机械加工 |
| 题名主题： | 几何误差 |
| 中图分类： | TG801 |
| 个人名称等同： | 王宇平 主编 |
| 记录来源： | CN GGNY 20080702 |