书目详细信息
： 现代集成电路测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-5025-8131-6:CNY95.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 现代集成电路测试技术/.时万春主编/.《现代集成电路测试技术》编写组编 |
| 出版发行项： | 北京:,化学工业出版社:,2006.5 |
| 载体形态项： | 540页:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书分为上、下篇。上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字/模拟/数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等。 |
| 题名主题： | 集成电路 测试 |
| 题名主题： | 集成电路 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 时万春 主编 |
| 团体名称等同： | 《现代集成电路测试技术》编写组 编 |
| 记录来源： | CN NLC 20060822 |