书目详细信息
： 碳化硅技术基本原理:生长、表征、器件和应用
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-58680-7:CNY150.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 碳化硅技术基本原理/.(日)木本恒畅, (美)詹姆士·A. 库珀著/.James A. Cooper/.夏经华 [等] 译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2018.05 |
| 载体形态项： | xiii, 500页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 新型电力电子器件丛书 |
| 提要文摘： | 本书是一本有关碳化硅材料、器件工艺、器件和应用方面的书籍, 其主题包括碳化硅的物理特性、晶体和外延生长、电学和光学性能的表征、扩展缺陷和点缺陷, 器件工艺、功率整流器和开关器件的设计理念, 单/双极型器件的物理和特征、击穿现象、高频和高温器件, 以及碳化硅器件的系统应用, 涵盖了基本概念和新发展现状, 并针对每个主题做深入的阐释, 包括基本的物理特性、新的理解、尚未解决的问题和未来的挑战。 |
| 题名主题： | 碳化硅陶瓷 研究 |
| 中图分类： | TQ174 |
| 个人名称等同： | 木本恒畅 著 |
| 个人名称等同： | 库珀 著 |
| 个人名称次要： | 夏经华 译 |
| 个人名称次要： | 潘艳 译 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20181031 |