书目详细信息
： 光电子器件微波封装和测试
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-033004-8:CNY96.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光电子器件微波封装和测试/.祝宁华著 |
| 版本项： | 2版 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2011.12 |
| 载体形态项： | 17,433页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 半导体科学与技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书系统介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术，其具体内容包括半导体激光器、光调制器和光探测器三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法等。 |
| 题名主题： | 光电器件 微波技术 封装工艺 |
| 题名主题： | 光电器件 微波测量 |
| 题名主题： | 光电器件 |
| 题名主题： | 微波技术 |
| 题名主题： | 封装工艺 |
| 题名主题： | 微波测量 |
| 中图分类： | TN15 |
| 个人名称等同： | 祝宁华 著 |
| 记录来源： | CN NLC 20120521 |