ISBN/价格: | 978-7-302-34026-3:CNY29.00 |
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作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 测试成熟度模型集成/.Erik van Veenendaal, Brian Wells著/.李燕, 刘峥 ... [等] 译 |
出版发行项: | 北京:,清华大学出版社:,2014.01 |
载体形态项: | 198页:;+26cm |
丛编项: | 21世纪高等学校规划教材.软件工程 |
相关题名附注: | 英文题名原文取自版权页 |
提要文摘: | 随着测试行业的日益成熟, 如何由过去作坊式测试进化为大规模工程测试成为各个测试组织所面临的问题。 |
题名主题: | 软件 测试 高等学校 教材 |
中图分类: | TP311.5 |
个人名称等同: | 温尼戴尔 著 |
个人名称等同: | 威尔 著 |
个人名称次要: | 李燕 译 |
个人名称次要: | 刘峥 译 |
记录来源: | CN 三新书业 20140419 |