书目详细信息
： 数字系统测试和可测试性设计
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-50154-1:CNY85.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 数字系统测试和可测试性设计/.(美)塞纳拉伯丁·纳瓦比著/.Zainalabedin Navabi/.贺海文, 唐威昀译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2015.06 |
| 载体形态项： | xv, 368页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 电子与嵌入式系统设计译丛 |
| 提要文摘： | 这本书论述了数字系统测试和可测性设计, 它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用, 这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。 |
| 题名主题： | 数字系统 测试 |
| 中图分类： | TP271 |
| 个人名称等同： | 纳瓦比 著 |
| 个人名称次要： | 贺海文 译 |
| 个人名称次要： | 唐威昀 译 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20161102 |