书目详细信息
： 集成电路测试基础
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-43802-8:CNY100.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试基础/.佛山市联动科技股份有限公司编著/.谷颜秋主编 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2022.7 |
| 载体形态项： | x, 320页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 集成电路产业知识赋能工程系列丛书 |
| 提要文摘： | 本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响, 自动测试设备 (ATE) V/I源的基本原理和实际应用限制, 一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法, 测试数据分析的常用方法, 以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍, 并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。以往这些内容分散到不同教材中, 缺乏系统性。本书以集成电路测试为主线, 从ATE应用角度, 结合编者多年来的研发和应用经验, 将基础知识串联起来。尤其从测试行业新人培养出发, 加入了V/I源的基本原理和实际应用限制的讲解, 并提供了仿真模型, 使读者能够快速、全面地了解集成电路测试所需的各项基础知识。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 谷颜秋 主编 |
| 记录来源： | CN 百万庄 20230315 |