书目详细信息
： 可靠性物理
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-27232-5:CNY88.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 可靠性物理/.工业和信息化部电子第五研究所组编/.恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2015.10 |
| 载体形态项： | xvi, 426页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 可靠性技术丛书 |
| 提要文摘： | 本书全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章, 前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型, 后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。 |
| 题名主题： | 电子元件 可靠性 研究 |
| 题名主题： | 电子器件 可靠性 研究 |
| 中图分类： | TN6 |
| 个人名称等同： | 恩云飞 编著 |
| 个人名称等同： | 谢少锋 编著 |
| 个人名称等同： | 何小琦 编著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20160226 |