| ISBN/价格: | 978-7-03-038824-7:CNY80.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 可靠性物理与工程/.(美)J.W.麦克弗森著/.秦飞 ... [等] 译 |
| 出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2013.11 |
| 载体形态项: | 245页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘: | 该书系统总结了电子器件、机械产品等的典型失效模式, 并在此基础上提出具有普适性的失效时间预测模型, 可以有效帮助从事产品设计、失效分析工作的工程师、技术人员深入理解失效的物理机理, 从而提高产品可靠性。 |
| 题名主题: | 电子元件 可靠性 失效分析 |
| 中图分类: | TN6 |
| 个人名称等同: | 麦克弗森 著 |
| 个人名称次要: | 秦飞 译 |
| 个人名称次要: | 安彤 译 |
| 记录来源: | CN 三新书业 20140218 |