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： 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5605-9902-1:CNY42.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 610000 |
| 题名责任者项： | 基于分子模拟的典型绝缘材料介电特性研究/.谢小军著 |
| 出版发行项： | 西安:,西安交通大学出版社:,2017.07 |
| 载体形态项： | 123页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | “十三五”学术文库系列 |
| 提要文摘： | 本文针对这两种不同的电介质材料, 研究如何准确建立微观结构模型, 并利用分子模拟技术研究材料本征介电特性, 分析缺陷在不同温度下对于介电特性的影响。研究材料相变特性, 分析相变对于介电特性的影响规律。研究成果对于深入分析电介质材料的介电特性, 进一步预测电介质材料在不同温度下的介电特性, 指导材料的应用具有重要意义。 |
| 题名主题： | 绝缘材料 介电性质 研究 |
| 中图分类： | TM2 |
| 个人名称等同： | 谢小军 著 |
| 记录来源： | CN 人天书店 20171023 |