书目详细信息
： 电子元器件可靠性设计
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-019638-5:CNY49.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件可靠性设计/.王蕴辉，于宗光，孙再吉主编 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2007.09 |
| 载体形态项： | 16,514页:;+24cm |
| 丛编项： | 电子可靠性工程技术实践丛书 |
| 提要文摘： | 本书内容有：单片集成电路可靠性设计，混合集成电路可靠性设计与控制，半导体分立器件可靠性设计，连接器可靠性设计，继电器可靠性设计等。 |
| 题名主题： | 电子元件 可靠性工程 设计 |
| 题名主题： | 电子元件 |
| 题名主题： | 可靠性工程 |
| 中图分类： | TN602 |
| 个人名称等同： | 王蕴辉 主编 |
| 个人名称等同： | 于宗光 主编 |
| 个人名称等同： | 孙再吉 主编 |
| 记录来源： | CN GXXHSD 20080418 |