书目详细信息
： 薄膜结构X射线表征
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-044195-9:CNY148.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 薄膜结构X射线表征/.麦振洪等著 |
| 版本项： | 第2版 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2015.06 |
| 载体形态项： | xv, 404页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 现代应用物理学丛书 |
| 提要文摘： | 撰写本书的目的是结合撰写人二十多年来的工作积累和国内外最新进展, 系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例, 全书分三部分: 基本实验装置、基本理论以及薄膜和多层膜微结构表征, 共十八章。 |
| 题名主题： | 薄膜结构 X射线衍射分析 |
| 中图分类： | O484.1 |
| 个人名称等同： | 麦振洪 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20171128 |