书目详细信息
： 精密光学元件先进测量与评价
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-03-041717-6:CNY85.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 精密光学元件先进测量与评价/.程灏波著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2015.03 |
| 载体形态项： | 277页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘： | 本书主要针对精密光学元件检测原理与技术进行了全面、详细的介绍, 并且追踪了最新的科技前沿技术的原理与应用, 紧扣实际应用需求, 对检测过程中的关键技术进行了研究。首先对光学元件的质量评价标准做了详细的介绍, 包括表面面形误差评价标准、亚表面损伤的评价以及光学元件均匀性的评价。之后, 对干涉检测原理与国际上前沿技术进行了介绍, 特别是相移干涉技术、动态干涉技术等。 |
| 题名主题： | 精密光学元件 测量 |
| 题名主题： | 精密光学元件 评价 |
| 中图分类： | TH74 |
| 个人名称等同： | 程灏波 著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20150530 |