书目详细信息
： 混合信号集成电路测试与测量
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-121-08293-1:CNY69.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 混合信号集成电路测试与测量/.(美)伯恩斯(Burns,M.)，(美)罗伯茨(Roberts,G.W.)著/.冯建华[等]译 |
| 出版发行项： | 北京:,电子工业出版社:,2009 |
| 载体形态项： | 15,531页:;+26cm |
| 丛编项： | 国外电子与通信教材系列 |
| 提要文摘： | 本书详细介绍了模拟和混合信号集成电路测试和测量方法，是第一本有关全面系统地介绍混合信号集成电路测试的专著。本书共分为16章，内容包括混合信号测试概况、测试规范、直流和参数测量、测量精度、测试仪硬件、采样理论、基于DSP的测试、模拟通道测试、采样通道测试、聚焦校准、DAC测试、ADC测试、DIB设计、可测试性设计(DFT)、数据分析和测试经济学。 |
| 题名主题： | 混合集成电路 测试技术 教材 |
| 题名主题： | 混合集成电路 |
| 中图分类： | TN450.7 |
| 个人名称等同： | 伯恩斯 (美) (Burns,M.) 著 |
| 个人名称等同： | 罗伯茨 (美) (Roberts,G.W.) 著 |
| 个人名称次要： | 冯建华 译 |
| 记录来源： | CN GXXHSD 20100303 |