ISBN/价格: | 978-7-122-27683-4:CNY198.00 |
作品语种: | chi eng |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 先进倒装芯片封装技术/.唐和明, 赖逸少, (美)汪正平主编/.Ho-Ming Tong, Yi-Shao Lai, C.P. Wong/.秦飞, 别晓锐, 安彤主译 |
出版发行项: | 北京:,化学工业出版社:,2017.02 |
载体形态项: | 438页:;+图:;+24cm |
丛编项: | 电子封装技术丛书 |
提要文摘: | 本书由倒装芯片封装技术领域世界级专家撰写而成, 系统总结了过去十几年倒装芯片封装技术的发展脉络和最新成果, 并对未来的发展趋势做出了展望。内容涵盖倒装芯片的市场与技术趋势、凸点技术、互连技术、下填料工艺与可靠性、导电胶应用、基板技术、芯片封装一体化电路设计、倒装芯片封装的热管理和热机械可靠性问题、倒装芯片焊锡接点的界面反应和电迁移问题等。 |
题名主题: | 芯片 封装工艺 |
中图分类: | TN43 |
个人名称等同: | 唐和明 主编 |
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个人名称等同: | 赖逸少 主编 |
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个人名称等同: | 汪正平 主编 |
个人名称次要: | 秦飞 主译 |
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个人名称次要: | 别晓锐 主译 |
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个人名称次要: | 安彤 主译 |
记录来源: | CN 湖北三新 20181103 |