书目详细信息
： 电子元器件失效分析与典型案例
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-118-04619-1:CNY150.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 电子元器件失效分析与典型案例/.孔学东，恩云飞主编 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2006.9 |
| 载体形态项： | 12,260页:;+图:;+26cm |
| 提要文摘： | 本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。 |
| 题名主题： | 电子元件 失效分析 |
| 题名主题： | 电子器件 失效分析 |
| 中图分类： | TN601 |
| 个人名称等同： | 孔学东 主编 |
| 个人名称等同： | 恩云飞 主编 |
| 记录来源： | CN 033001 20061016 |
| 记录来源： | CN 033001 20061016 |