书目详细信息
： 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-52184-6:CNY59.90 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷检测/.(美)桑迪普 K. 戈埃尔, (印)科瑞申恩度·查克拉巴蒂主编/.续海涛等译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2016.01 |
| 载体形态项： | xiii, 191页:;+图:;+24cm |
| 丛编项： | 国际信息个程先进技术译丛 |
| 相关题名附注： | 英文题名原文取自封面 |
| 提要文摘： | 本书分为4个部分: 第1部分主要介绍了时序敏感自动测试向量生成 (ATPG); 第2部分关于全速测试, 并且提出了一种超速测试的测试方法用于检测SDD; 第3部分介绍了一种SDD测试的替代方案, 可以在ATPG和基于电路拓扑的解决方案之间进行折衷; 第4部分介绍了SDD的测试标准, 以量化的指标来评估SDD覆盖率。本书内容由简入深, 对SDD测试全面展开, 有助于提高读者的理解和掌握。 |
| 题名主题： | 纳米材料 MOS集成电路 缺陷检测 |
| 中图分类： | TN432 |
| 个人名称等同： | 戈埃尔 主编 |
| 个人名称等同： | 查克拉巴蒂 主编 |
| 个人名称次要： | 续海涛 译 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20161202 |