书目详细信息
： 空间电子仪器单粒子效应防护技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-118-07208-2:CNY65.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 空间电子仪器单粒子效应防护技术/.王跃科[等]著 |
| 出版发行项： | 北京:,国防工业出版社:,2010.11 |
| 载体形态项： | 25,354页:;+图:;+21cm |
| 一般附注： | 国防科技图书出版基金资助出版 |
| 提要文摘： | 本书共10章，主要内容包括：空间环境、VLSI的单粒子效应、VLSI的单粒子效应故障模式与特性、单粒子效应实验与验证方法、FPGA单粒子效应故障检测与加固设计、DSP单粒子效应故障检测与加固设计、空间电子仪器平台抗单粒子效应体系结构等。 |
| 并列题名： | Single event effect mitigation techniques for space electronic instrument eng |
| 题名主题： | 人造卫星 超大规模集成电路 电子仪器 粒子 防护 |
| 题名主题： | 人造卫星 |
| 题名主题： | 超大规模集成电路 |
| 题名主题： | 电子仪器 |
| 题名主题： | 粒子 |
| 题名主题： | 防护 |
| 中图分类： | V443 |
| 个人名称等同： | 王跃科 (动态测试) 著 |
| 记录来源： | CN NLC 20120706 |