书目详细信息
： 宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5767-0541-6:CNY98.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 230000 |
| 题名责任者项： | 宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践/.付晓君[等] 编著 |
| 出版发行项： | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2023.05 |
| 载体形态项： | 250页:;+图 (部分彩图):;+25cm |
| 丛编项： | 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 |
| 一般附注： | 国家出版基金资助项目 国家出版基金项目 |
| 提要文摘： | 本书系统地介绍了宇航功率MOSFET器件的单粒子效应机理和加固技术。全书共6章, 主要内容包括空间辐射环境与基本辐射效应、宇航功率MOSFET器件空间辐射效应及损伤模型、宇航功率MOSFET抗单粒子加固技术和试验评估技术。书中以一款宇航VDMOS器件为实例, 详述了抗单粒子加固样品的结构设计和制造工艺细节。 |
| 并列题名： | Single event effect hardening technique and practice on aerospace power mosfets eng |
| 题名主题： | 功率MOSFET 辐射防护 研究 |
| 中图分类： | TN323 |
| 个人名称等同： | 付晓君 编著 |
| 个人名称等同： | 魏佳男 编著 |
| 个人名称等同： | 吴昊 编著 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20240811 |