书目详细信息
： 集成电路测试原理
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5770-0163-0:CNY68.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 510000 |
| 题名责任者项： | 集成电路测试原理/.戴志坚, 王厚军主编 |
| 出版发行项： | 成都:,电子科技大学出版社:,2023.04 |
| 载体形态项： | 204页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 电子科技大学本科规划教材 |
| 提要文摘： | 本书详细介绍了集成电路测试的基本原理、测试系统和测试开发方法。首先介绍了集成电路测试的相关概念和术语, 集成电路测试的最新发展趋势; 其次详细介绍了集成电路直流参数测试和模拟集成电路测试的基本方法; 再次介绍了数字集成电路的基本测试方法, 然后在此基础上重点介绍了数模混合电路 (ADC/DAC) 测试方法。此外, 本书还对集成电路测试系统 (ATE) 的结构和工作原理、测试接口板 (DIB) 和测试程序开发做了介绍。 |
| 题名主题： | 集成电路 电路测试 |
| 中图分类： | TN407 |
| 个人名称等同： | 戴志坚, 主编 |
| 个人名称等同： | 王厚军, 主编 |
| 记录来源： | CN 湖北三新 20240816 |